·半导体器件高精度测量
上限达2000V或电流到10A的源（370A）
上限到3000V（371A）

-上限到220W（370A）

-上限到400A（371A）

-1nA的测量分辨率

-上限到3000W（371A）

·上限到2mV的测量分辨率（370A）

·波形对比

·包络显示

·波形平均

·点光标（370A）

·Kelvin传感测量

·全程控

·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用

应用

手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量

来料检查

生产测试

过程监视及质量控制

数据报告的生成

元件配对

失效分析

工程测试

交互式程控

所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包

括370A的非易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。

测试夹具

测试夹具是标准附件，它提供被测器件**防护，以?；げ饬咳嗽钡?*。测试夹具适应标准的A1001，中间通

过Kelvin传感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。