Agilent 4279A 1MHz C-V表
Agilent 4279A 1MHz C-V表在测量半导体的电容和偏置电压特性方面，是提G测量质量和吞吐量的**解决方案。Agilent 4279A在扫描直流偏置电压的同时，可测量0.00001pF至1280.00pF范围的电容，基本精度为0.1%，显示分辨率为6位。因为偏置电压不确定度很低，所以在+/-38V范围内，电压精度达0.1%的内部可编程直流偏置扫描源可确保非常少的测量错误。这使Agilent 4279A成为了**表征和测试变容二极管、MOS二极管等的器件理想工具。测量时间具有三种可选模式：10ms、20ms和30ms/meas，以达到Z大生产效率。Agilent 4279A的快速量程选择和G速GP-IB数据传输能力可以缩短测试时间。自动偏置极性控制特性有助于为被测件快速选择正确的极性偏置电压。这种新功能简化了输入/输出检查中的手动采样测试，并为自动测试系统提供了简单的极性控制方法。
主要技术指标
用于晶片掺杂的C-V测量
变容二极管的C-V表征和分类。
射频混频器和转换二极管的电容测试。
通过进厂检验的应用直流偏置测试电容器。
测量时间：10ms/20ms/30ms
测量精度：0.1%（20ms）
内部直流偏置：0至+/-38V，0.1%可编程扫描
测量范围：0.00001pF至1280pF

美国HP惠普 4284A G精度LCR测试仪 20Hz-1MHz 可程控

4284A的简单介绍：

20Hz-1MHz具有8600个以上的测试频率

0.05%的基本精度，6位数字分辨率

恒定的V或I测试信号电平

20Vrms电平选件（选件001）

用Alilent 42841A进给出40Adc

具有列表扫描测量功能

Agilent 4284A精密LCR测试仪是用于元件和材料测量的价廉物美的仪器。它通过提供J确、G吞吐量的测试方法来改善元件的质量。20Hz到1MHz宽的测频范围和优良的测试信号，使4284A在测试元件时符合通行的测试标准如IEC/MIL标准（国际电工委员会或美国标准），且工作在模拟所使.

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