采用 InstaView? 技术的 AFG31000 系列为内置波形发生应用程序、具有实时波形监测功能并采用智能用户界面的**高性能任意波函数发生器。

AFG31000系列任意波函数发生器 型号

AFG31000系列任意波函数发生器 概述

验证连接 DUT 后输出波形
InstaView? 技术用在任意波函数发生器上可直接查看连接 DUT 后的实时波形，无需使用示波器或其他设备，节省测试时间并避免因阻抗不匹配导致的实验错误。
高保真度信号与**模式
在连续模式下每通道可以生成长达 16 M 点的**长波形。 可变采集时钟技术确保您不再丢失任何波形数据。产品功能可升级，您可以进一步提高测试水平并只需花费传统 AWG 十分之一的成本进行复杂波形的创建和编辑。
产品选配功能升级，您可以：

• 将内存扩展为每通道 128 M 点（选件 MEM）
• 多达 25 项输入和控制的序列/触发/选通模式（选件 SEQ）用于：循环、等待、跳转、转至、外部触发输入、手动触发、定时触发和 SCPI 命令，以便创建时序灵活、复杂的长波形。

简化任意波形创建
内置的 ARB 编辑工具 ArbBuilder 包括创建、编辑和传输任意波形的所有操作，无需连接 PC 或向 PC 传输文件。幅度和偏置数据存储在波形中，因此，在加载标准化 ARB 后，无需调整设置。
智能用户界面
使用市场中的较大 AFG 触摸屏更快地学习和工作。9 英寸的屏幕的工作原理和智能设备类似，因此，您可以通过手指缩放和滚动以便轻松找到设置和参数并查找常用设置的快捷键。
不止需要两条通道？
如果您不止需要两条波形通道来模拟被测设备 (DUT)，多台同步设置用于快速同步两台或多台设备。通过屏幕向导信息指导您在三分钟内完成电缆连接和设置过程。
优异的指标

• 单或双通道型号
• 接到 50Ω 负载时的输出幅度范围 1 mVp-p 至 10 Vp-p
• 基本 (AFG) 模式
  • 25 MHz、50 MHz、100 MHz、150 MHz 或 250 MHz 正弦波形
  • 250 MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s 或 2GSa/s 采样率
  • 14 位垂直分辨率
  • 连续、调制、扫描与突发模式
  • 各通道均具有 128 k 点的任意波形内存
• **模式
  • 连续模式和选配序列、触发和选通模式
  • 各通道均具有 16 M 点的任意波形内存（可选 128 M 点）
  • 在包含循环、调整和等待事件的序列模式下多达 256 步
  • 变量采样时钟 1 ?Sa/s 至 2 GSa/s
  • *小波形长度 168 点，粒度为 1 点

将噪声和抖动降低 10 倍
由于噪音本底较低且输出幅度低至 1mVpp，噪音和抖动技术规格比上一代技术好 10 倍，可以确保测试的清晰度和保真度。
在线升级
由于架构基于软件，您可以直接从网站使用满足需求的选件升级 AFG31000。
当前可用

• 带宽升级
• 内存大小升级
• 波形排序升级

AFG31000系列任意波函数发生器 应用

模拟电路检定

这是一个模拟世界。所有物理量均使用模拟信号捕获和表示。因此，需要检定放大器、滤波器和转换器等模拟电路的性能。

• InstaView? 技术避免在阻抗不匹配的 DUT 上增加的波形不确定性
• 频率范围为 25 MHz 至 250 MHz
• 由于信号保真度高，无需使用外部滤波器或衰减器
• 由于具有频率捷变特性且正弦波平坦度经过校准，频率响应测试可以轻松完成

真实场景信号复制

传感器广泛用于几乎所有现代化电子设计领域，从汽车到医疗器械再到电子消费品。迄今为止，使用 AFG 捕获波形并进行复制以便排除故障或验证一直是**挑战的过程。

• ArbBuilder 可直接导入多个泰克示波器产品系列保存的 csv 格式的波形
• 高达 128 M 点的任意内存极大地增加了信号的长度
• 低本底噪声使信号更为清晰

函数验证和性能检定

在产品上市前，测试工程师必须进行大量测试用例，确保产品满足技术规格。但是，此过程比较耗时且重复。

• 完全可编程，实现自动测试和手动测试的直观用户界面
• 波形序列功能使用户在一个测试历程中完成所有的测试序列
• 灵活的重复跳转方法保证高效率
• 高达 128 M 点的任意内存和内置非易失性闪存存储所有波形和测试程序

系统与时钟或脉冲同步

数字设计中的所有电路部分按照时钟速度同时工作。大系统中的所有设备必须与触发信号协调，以确保它们正常、可靠地工作。使用 AFG31000 为生成时钟和触发脉冲的有效方法。

• 脉冲/方波频率范围高达 160 MHz
• 频率捷变实现时钟不同速率的无缝切换
• 易用的向导说明指导您完成多台设备的同步过程以便增加通道数
• 低抖动水平，让您在触发系统时更加自信

驱动电源设备的脉冲

IGBT 或 MOSFET 的动态性能特性要求脉冲驱动门极开启或关闭。

• 通过可调占空比和边沿时间轻松生成脉冲
• 以灵活时序生成脉冲串的波形排序
• 内置噪声发生器且浮动接地，以便增加 DC 电源压力测试的噪声
• 输出通道具有过流?；ひ员憔×考跎偻；奔?/span>

**研究和教育

研究人员和教师需要大量信号才能完成研究和教学工作。测试可以像一系列的脉冲一样简单，模拟 Geiger-Muller 计数器的输出，或者像一个长基带 IQ 一样复杂。

• InstaView? 技术避免因连接复杂负载上增加输出波型的不确定性
• 整合多种特性与功能
• 双工作模式均衡易用性和灵活性生成复杂波形
• 内置的 ArbBuilder 用于在屏幕上直接生成和编辑任意波形